Portada de Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal

690 páginas2000Kluwer AcademicInglés

Serie o saga: Frontiers in electronic testing

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ISBN 9780792379911Metadatos: Metadatos abiertos (Open Library, CC0/PD) · registro de origen